2025年未来测试技术发展学术会议

-会议内容-

尊敬的各位专家：

随着科技的迅猛发展，测试技术作为支撑现代工业和科研的重要基石，正面临前所未有的机遇与挑战。为探讨未来测试技术的前沿趋势和热点领域，提出学术发展方向、科学问题与关键技术等，由北京方略博华文化传媒有限公司、中国电子学会电子测量与仪器分会主办，电子科技大学承办的“2025年未来测试技术发展学术会议”将于2025年3月22日在电子科技大学召开。本次会议由优利德科技(中国)股份有限公司、电子城·（成都）智慧科技创新中心协办。

本次会议以“人工智能时代背景下未来测试技术的前沿探索与实践”为主题，将汇聚国内专家学者、行业领袖及科研团队，围绕毫米波太赫兹收发技术、量子精密测试技术、智能测试技术与仪器等关键技术领域展开深入交流，旨在搭建一个高水平的学术交流平台，推动测试技术的理论突破与实践创新，促进测试技术在多领域的融合与应用，助力我国测试技术迈向国际领先水平。诚邀各界专家学者、行业精英齐聚一堂，共话未来，共谋发展。

一

会议时间和地点

时间：2025年3月22日（周六）

地点：成都市高新区（西区）西源大道2006号电子科技大学成电国际创新中心D栋D104报告厅

二

会议主办、承办、协办单位

1. 主办单位

北京方略博华文化传媒有限公司

中国电子学会电子测量与仪器分会

2.承办单位

电子科技大学

3.协办单位

优利德科技(中国)股份有限公司

电子城·（成都）智慧科技创新中心

三

会议议程

统一安排午餐，酒店事宜请参会者自行妥善解决，酒店费用自理。

四

会议论文征集

会议以“未来测试技术”为主题，面向广大参会者征文，特邀电子科技大学赵贻玖教授担任专题主编，电子科技大学肖寅东教授担任专题副主编，并择优在《电子测量与仪器学报》（北大核心、CSCD核心、卓越期刊计划领军期刊）以专题形式进行发表，诚邀科研院所、企业技术团队及行业专家分享前瞻性研究成果。专题稿件涵盖主题可涉及以下相关方向（但不限于）：智能测试技术；大数据与测试分析；集成电路智能测试；量子测试技术；分布式测试；智能仪器设计；故障诊断与预测；智能制造与无人系统测试；智能传感与非电量测试。

全文提交截止日期：2025年4月30日（之后投稿的优秀论文将根据情况安排其他排期）；专题出版日期：2025年6月30日；征稿方式：学报官网注册登录投稿 

中国电子学会电子测量与仪器分会

2025年2月27日

-主办方介绍-