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2014第五届中国二次离子质谱学会议

2014第五届中国二次离子质谱学会议

2014-10-18 00:00 至 2014-10-20 00:00

北京  

报名截止

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发票类型:增值税普通发票 增值税专用发票

第五届中国二次离子质谱学会议将于2014 年10 月18-20 日在北京中国科学院地质与地球物理研究所举行。会议将为我国二次离子质谱学界的学术研讨、技术交流与合作提供平台,推动二次离子质谱学的发展,促进二次离子质谱技术在各领域的应用。会议热诚邀请中国大陆、港澳台地区以及海外从事二次离子质谱学相关工作的同仁相聚北京,展示最新的研究成果,共同推动我国二次离子质谱学的发展。

会议时间地点:
时间:2014年10月18-20 日
地点:中国科学院地质与地球物理研究所

发起单位和承办、协办单位 
1.发起单位:中国矿物岩石地球化学学会微束分析测试专业委员会 
2.承办单位:中国科学院地质与地球物理研究所岩石圈演化国家重点实验室 
3.协办单位:清华大学分析中心、国家科技基础条件平台北京离子探针中心、中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家(联合)实验室、中国科学院半导体研究所半导体照明联合创新国家重点实验室、中国矿业大学煤炭资源与安全开采国家重点实验室、中国科学院广州地球化学研究所同位素地球化学国家重点实验室、中国科学院活体分析化学重点实验室、中国科学院地球与行星物理重点实验室 

会议日程: 
10月18日:会前课程短训和会议注册报到 
10月19日上午:开幕式和大会报告 
10月19日下午-20日:专题研讨、展板交流 
10月21日上午:离子探针实验室考察与交流 

1. 会前课程短训 
查良镇(北京清华大学):二次离子质谱学原理与应用进展 
李秋立(中国科学院地质与地球物理研究所):二次离子质谱U-Pb同位素定年和稳定同位素分析技术新进展 
林杨挺(中国科学院地质与地球物理研究所):NanoSIMS分析技术及应用 
麦富德(台北医科大学):TOF-SIMS在生物医学中的应用 
翁禄涛(香港科技大学):TOF-SIMS在材料科学中的应用 
凌永健(新竹清华大学):TOF-SIMS在奈米科学中的应用 

短训课程免费,会议为参加短训课程的成员提供免费午餐。 

2. 会议报告 
包括大会特邀报告和专题研讨。会议将邀请国内外知名学者做大会特邀报告。专题研讨包括口头报告和展板交流两部分,由组织委员会负责组织和安排。 

3. 会后实验室考察参观 
组织委员会拟安排与会代表考察参观中国科学院地质与地球物理研究所的离子探针实验室和纳米离子探针实验室、北京离子探针中心、中国科学院半导体研究所半导体照明研发中心和清华大学分析中心的TOF-SIMS等实验室等。 

参会费:

1、9月30日前报名缴费:1000元/人
2、9月30日后报名缴费:1200元/人

费用包含:会务费、资料费,餐饮费、考察参观费用;
费用不包含:交通费、住宿费自理。 

1、免费活动如何报名参加?
请通过文章中的联系方式报名参加。

2、价格显示为收费的活动具体费用是多少?我要如何报名?
你可以在网站上留言或电话(400-003-3879)咨询,我们会尽快联系你。

3、活动具体地址在哪里?
1、活动具体地址待报名后告知。
2、报名前可咨询“活动家”客服,服务热线 400-003-3879

4、活动截止报名时间是什么时候?
尽早报名,早报早优惠。

5、怎么提交论文?论文参会如何收费?
亲,您好!我们暂不接受论文提交或论文参会。

6、活动发票如何领取?
亲,您好!请您在下单时,在备注框内填写好发票抬头,发票寄送地址或其它信息,以便您能即时有效的收到发票。

会议标签:

物理 化学

温馨提示
酒店与住宿: 异地参会客户请注意,为防止会议临时变动,建议您先与活动家客服确认参会信息,再安排出行与住宿事宜。
退款规则: 活动各项资源需提前采购,购票后不支持退款,可以换人参加。

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