2014年第八届中国测试学术会议

7月19日上午到中原楼学术会议厅开幕式，校车接送。 
7月19日晚上中天世纪大酒店餐厅聚餐。其他时间在接待中心餐厅就餐。

台湾交通大学-赵家佐教授

Topic: Test-structure Designs and Data-analytic Methods for Process Monitoring
报告题目：用于工艺偏差监控的测试结构设计和数据分析方法 
Abstract: The greatly increasing process variation is one of the most unwanted but inevitable byproduct of the never-stopped process-scaling competition. In this talk, we will introduce different types of test-structure designs used for WAT (wafer-acceptance-test), device-parameter characterization and on-chip process monitoring. We will also show some data-analytic methods which, working along with the test structure, can extract the key factors implicitly embedded in the massive measured test data.

Bio: Prof. Mango Chia-Tso Chao (赵家佐) received his Ph.D. degree from the department of electrical and computer engineering at UC Santa Barbara in 2006. During his Ph.D. study, he worked at NEC research lab, Priceton, as a research staff. In 2006, he joined the department of electronics engineering at National Chiao Tung university in Hsinchu, Taiwan and is now a full professor. In the area of VLSI testing, he has published more than 20 first-tier conference papers such as ITC, VTS, DAC and ICCAD in the recent years. He also received the outstanding young faculty award from Taiwan IC Design Society (TICD) in 2013. His recent research interests include WAT test-structure designs, FinFET circuit testing, advanced embedded memory testing and data mining techniques.

哈尔滨工业大学-杨孝宗教授

报告题目：高端容错服务器及其评价

个人简介：杨孝宗，哈尔滨工业大学计算机系教授，博士生导师，中国计算机学会容错计算专业委员会 副主任，中国计算机学会容错机系统结构学组 组长，中国计算机学会可穿戴计算学组 组长。

研究方向：计算机系统结构、容错计算技术、故障注入技术、移动计算技术、可穿戴计算技术、可信计算技术、分布式计算技术 

科研成果：

1.2003年"神舟号载人飞船数据管理分系统"部委科技进步一等奖
2.2003年"可穿戴式维修系统"部委科技进步二等奖
3.1996年"故障注入器研制"部科技进步二等奖
4.1996年"高可靠软件开发工具研制"部科技进步三等奖
5.1995年"支持Ada并行执行的多机系统"部科技进步二等奖
6.2000年"可穿戴计算机系统研制"，通过部委鉴定
7.1991年-2003年共研制不同型号的"容错性能测试仪"5台分别由5个单位使用

会务费：1100元/人

1、免费活动如何报名参加？
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